薄层计时安培分析法

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本案例基于一维对称扩散分析,模拟了微观薄层中的穷举安培检测这种常见的电分析方法。模拟结果与解析 Cottrell 方程在短时间内相一致,长时间来看,当扩散层跨越薄层电解池时,同预计的一样,二者发生偏离。

案例中展示的此类问题通常可通过以下产品建模: